高頻噪聲模擬試驗器選件

深圳辰（chén）儀科技將帶給您更（gèng）多NOISEKEN高頻噪聲模擬試驗（yàn）器選件請閱讀下麵（miàn）的詳細介（jiè）紹。

三相耦合網絡 Model IJ-4050

- 本機器和高頻噪聲（shēng）模擬試驗器組合，能（néng）夠進行AC415V 50A的3相5線（L1,L2,L3,N,PE）的高頻噪聲試驗。
- 差模、共模的耦合模式可簡單的（de）通過（guò）接頭的切換（huàn）來實現。
- 和INS-4020/4040組合時，可進行和EUT 線路同步（bù）的線路同（tóng）步試驗。

規格/性能

EMS探頭套件 Model H2B

 
- 可利用高頻噪聲模擬試驗器向PCB板和帶狀線施加（jiā）噪聲。
- 通過合理利用探頭可分別進行電場/磁場的近場輻射。
- 可在PCB板（bǎn）和線（xiàn）束等的任意部分施加噪聲
- 電場/磁場分別耦合，可探（tàn）測各個（gè）薄（báo）弱環節。
- 含形狀、大小（xiǎo）各異的電場探頭、磁場探頭各3個。
- 可在數mm範圍內施加噪聲（shēng），可以找（zhǎo）出薄弱部分
- 如（rú）波源用信號發生器，則可以探測特定頻率點的薄弱部分
- 可直接利用手頭已有的高頻噪聲模擬（nǐ）器

輸出（chū）麵板（INS-AX2係列） 18-00069A/18-00070A/18-00071A

改變INS-AX2係列的（de）線路輸出接頭的輸出麵（miàn）板。

輸出麵板（bǎn）(INS-4020/4040） 18-00059C/18-00060B

改變INS-4020/4040的線路輸（shū）出接頭（tóu）的輸（shū）出麵板。

外部斷路器盒　18-00072A/73A

三角波發生模塊 02-00099A

- 安裝在（zài）INS-4020/4040的輸出端，無需主機的改造，就可以把方波脈衝（chōng）改變為三角（jiǎo）波脈衝的輸出。

耦合夾（jiá） CA-806（15-00007A)

CA-806和INS係列組合在（zài）一（yī）起使用，在把電子產品的線（xiàn）纜包夾後就（jiù）可以進行抗幹擾特性的試驗。

• 不切（qiē）斷信（xìn）號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可把（bǎ）電子產品的噪聲抗擾度分別分離後（hòu）進行試驗（yàn）

• 終端電（diàn）阻內置

耦合夾 CA-805B

CA-805B和INS係列組合在一起使用，在把（bǎ）電子產品的線纜包夾後（hòu）就可以進行抗幹擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等就可注入噪聲

• 可（kě）把電子產品（pǐn）的噪聲抗擾度分別分離後進行試驗

• 由於可向信號線（xiàn）等直接注入噪聲，所以可高效地進行噪聲抗擾度試驗

• 可包夾最（zuì）大外徑26mm的信號線（xiàn）束

耦合夾 CA-803A

CA-803A和INS係列組合在一起使（shǐ）用（yòng），在把電子產品的線纜包夾後就可以進（jìn）行抗幹（gàn）擾特性的試驗。

• 不切斷（duàn）信號、DC、AC、GND等（děng）就可注入噪（zào）聲

• 可把電子產品的噪聲抗擾度分（fèn）別分離後進行試驗

• 可包夾最大外徑（jìng）15mm的信號線束

• 終端電阻內置

輻射探頭（tóu） 01-00006A/07A/08A/09A/10A

本探頭和INS係列連接，可向電子產品內（nèi）部的配線（xiàn）（PC板）等施加電磁場輻射噪聲，從而（ér）探測（cè）電（diàn）子產品對輻射噪聲的（de）薄弱部分。

USB光模塊套件 07-00022A

-   試驗器通過PC自動控製時使用的轉換器

- USB－光轉換、帶5m光纖

- INS-AX2- 係列

波形觀（guān）測用衰減器 AT-810

CA-803A和INS係列組合在（zài）一起使用，在把電子產品的線纜（lǎn）包夾後就可以進行抗幹擾特性的試驗。

• 不切斷信號、DC、AC、GND等（děng）就可注入噪聲

• 可把電子產品的噪聲抗（kàng）擾度（dù）分（fèn）別分離後（hòu）進（jìn）行試驗

• 可包夾最大外徑15mm的信（xìn）號線束

• 終端電阻內置

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